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掃描電子顯微鏡

簡(jiǎn)要描述:JSM-IT200掃描電子顯微鏡,是用聚焦電子束在試樣表面逐點(diǎn)掃描成像,成像信號(hào)可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。二次電子信號(hào)被探測(cè)器收集轉(zhuǎn)換成電訊號(hào),經(jīng)視頻放大后輸入到顯像管柵極,調(diào)制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度,得到反映試樣表面形貌的二次電子像。用來(lái)測(cè)定樣品微觀形貌結(jié)構(gòu),可測(cè)樣品:土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、保健品等多種樣品,

  • 產(chǎn)品型號(hào):JSM-IT200
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商
  • 更新時(shí)間:2024-04-09
  • 訪  問(wèn)  量:3722

詳細(xì)介紹

JSM-IT200掃描電子顯微鏡

主窗口 Z e r o m a g 觀察ー

使用主窗口顯示的樣品架示意圖和光學(xué)C C D 圖像 *1 ,能尋找視野和定位 分析位置。

顯示譜圖和顯示元素 顯示譜圖和顯示元素 Live Analysis 分析 *2

通過(guò)顯示譜圖和顯示元素,能確認(rèn)正在觀察中的視野的譜圖及主要元素。

數(shù)據(jù)管理圖標(biāo) 數(shù)據(jù)管理圖標(biāo) SMILE VIEW

T M

L a b 數(shù)據(jù)集中管理ー按下數(shù)據(jù)管理圖標(biāo)并顯示數(shù)據(jù)管理窗口后,從 S E M 圖像到分析,對(duì)全部數(shù)據(jù)能創(chuàng)建批量報(bào)告、

查看數(shù)據(jù)并重新分析數(shù)據(jù)。

J S M - I T 2 0 0 在完成樣品交換的同時(shí),開(kāi)始觀察需要的視野。

按照導(dǎo)航流程操作,也可以安全、方便、可靠地交換樣品。

樣品交換導(dǎo)航

樣品交換導(dǎo)航是從打開(kāi)樣品室到開(kāi)始觀察過(guò)程中進(jìn)行導(dǎo)航的功能。

Zeromag

只需擴(kuò)大光學(xué)圖像,就可以過(guò)渡到 S E M 圖像

Z e r o m a g 功能將與樣品臺(tái)位置關(guān)聯(lián)的樣品架示意圖、C C D 圖像 * (光學(xué)圖像)和S E M 圖像實(shí)現(xiàn)了聯(lián)動(dòng)。可以直觀地尋找分析區(qū)域,只需放大光學(xué)圖像就可以過(guò)渡到S E M 圖像,因而能防止弄錯(cuò)觀察目標(biāo)和樣品。

Zeromag 的特長(zhǎng)

?能象用光鏡一樣直觀地移動(dòng)視野

?可以預(yù)約多個(gè)分析區(qū)域的測(cè)試

?可以輕松回溯到已測(cè)試完的區(qū)域

Live Analysis

S E M 觀察過(guò)程中始終顯示元素分析結(jié)果

利用Live A n a ly s i s 功能,可以不必再分別考慮S E M 觀察和E D S 分析。在觀察窗口上可以隨時(shí)顯示分析區(qū)域內(nèi)的特征X射線譜圖和自動(dòng)定性的主要構(gòu)成元素名稱(chēng),還可以發(fā)現(xiàn)感興趣的元素和一些意想不到的元素。

Live Analysis 的特長(zhǎng)

?始終顯示特征X射線譜圖

?通過(guò)顯示樣品的主要構(gòu)成元素幫助發(fā)現(xiàn)意想不到的元素。

?對(duì)感興趣元素的標(biāo)注“Alert"

利用SEM觀察窗口上配置的全域/區(qū)域面分布圖圖標(biāo)能獲取整個(gè)觀察區(qū)域或需要區(qū)域的元素面分布圖。

可利用數(shù)據(jù)管理軟件 SMILE VIEWTM Lab 對(duì)采集的數(shù)據(jù)(如用譜圖、元素面分布圖、線分析對(duì)元素的再定位等)進(jìn)行各種分析。

實(shí)時(shí) 凈計(jì)數(shù)面分布圖/定量面分布圖

對(duì)每個(gè)像素點(diǎn)的譜峰進(jìn)行分離,顯示消除了臨近峰影響的元素面分布圖。對(duì)凈計(jì)數(shù)面分布圖進(jìn)一步校正計(jì)算,還有用定量值顯示的定量面分布圖。

強(qiáng)度面分布圖和凈計(jì)數(shù)面分布圖

Pb-Mα (2.342 keV)的譜峰 Bi-Mα (2.419 keV) 的譜峰很接近,在強(qiáng)度面分布圖中很難把BiPb的峰*分開(kāi)。通過(guò)顯示凈計(jì)數(shù)面分布圖,可以確認(rèn)Bi元素原有的分布。

JSM-IT200掃描電子顯微鏡技術(shù)規(guī)格

設(shè)備型號(hào)

IT200

基本性能

二次電子像分辨率

3 nm (30 kV, 高真空)

8 nm (3 kV, 高真空)

15 nm (1 kV, 高真空)

背散射電子像分辨率

4.0 nm (30 kV, 高真空)

加速電壓

0.5 to 30kV

放大倍數(shù)

5x to 300,000x

EDS 分析

電制冷方式Dry SDD extra detector (不用液氮)

EDS 分析位置: WD 10 mm, 取出角 35

電子光學(xué)系統(tǒng)

電子槍

工廠預(yù)對(duì)中燈絲

電子槍偏壓

無(wú)縫式自偏壓

聚光鏡

可變焦聚光鏡

物鏡

超級(jí)圓錐形物鏡

物鏡光闌

3段式可動(dòng)(XY軸微調(diào))

像散存儲(chǔ)器

內(nèi)置

圖像移動(dòng)

±50μmWD 10 mm

探測(cè)器

二次電子探測(cè)器

高靈敏度半導(dǎo)體型背散射電子探測(cè)器

自動(dòng)化功能

自動(dòng)燈絲加熱

內(nèi)置

自動(dòng)槍對(duì)中

內(nèi)置

自動(dòng)聚焦

內(nèi)置

自動(dòng)消像散

內(nèi)置

自動(dòng)亮度和對(duì)比度調(diào)整

內(nèi)置

樣品室

最大樣品尺寸

150 mm (直徑)

可支持的選購(gòu)附件

EDS, WDS, EBSD, CLD, SHIC, SCU, Raman

樣品臺(tái)

X

0 ~ 80 mm

Y

0 ~ 40 mm

Z

5 ~ 48 mm

R

360

T

-10 ~ 90

最大視野范圍

127 mm (直徑)

最大樣品高度

48 mm

馬達(dá)驅(qū)動(dòng)

2 (X, Y)

圖像顯示系統(tǒng)

PC?OS

Windows®10

顯示器

24" LCD

圖像存儲(chǔ)像素

320x240, 640x480, 1280x960, 2560x1920, 5120x3840 pixels

圖像保存格式

Format: BMP, TIFF, JPEG

操作系統(tǒng)

操作導(dǎo)航器


位于顯示屏下端的操作導(dǎo)航器可控制以下功能:用戶管理, 樣品交換, 菜單, 成像, 打印, 參數(shù)設(shè)定, 維護(hù)

測(cè)量功能

平行線間距測(cè)量

垂直, 水平, 對(duì)角

2點(diǎn)之間距離測(cè)量

任意2點(diǎn)間距離

圓的測(cè)量

直徑, 2個(gè)圓中心間距離

角度測(cè)量

角度

面積測(cè)量

圓和多角形

計(jì)數(shù)

顆粒統(tǒng)計(jì)

真空系統(tǒng)

類(lèi)型

全自動(dòng)抽真空系統(tǒng)

油擴(kuò)散泵

420 /

機(jī)械泵

100 /: 1 (6510/A), 2 (6510LV/LA)

外觀

基本單元尺寸

750 mm () x 1,000 mm () x 1,445 mm ()

基本單元重量

325 公斤

安裝要求

室溫

20 ± 5

濕度:

低于60%

供電

單相 AC100 V, 50/60 Hz, 3 kVA


E DS 適用于AAnalysis)和LALow V a c u u m &Analysis)配置。

主要技術(shù)規(guī)格



Basic(標(biāo)配)

Standard

SEM 集成化

SEM 控制軟件內(nèi)置

觀察/分析數(shù)據(jù)的集中管理

SEM 操作窗口上定位分析位置(從SEM GUI上直接分析)

分析位置的圖形顯示

檢測(cè)器

SDD 類(lèi)型

參照檢測(cè)器列表

譜圖分析

定性分析(譜峰鑒別、自動(dòng)定性)

Visual Peak ID

無(wú)標(biāo)樣定量分析(ZAF 法)

標(biāo)樣定量分析(ZAF 法) *4


PHI-RHO-Z(PRZ) 法定量校正法

線分析

線分析(水平、任意方向

元素面分布圖

元素面分布圖(多色顯示、單色顯示、多色合成

最大分辨率 4 , 0 9 6 × 3 , 0 7 2

實(shí)時(shí)彈出譜

譜峰分離圖 (凈計(jì)數(shù)面分布圖、定量面分布圖)

實(shí)時(shí)凈計(jì)數(shù)面分布圖

實(shí)時(shí)過(guò)濾器

濃度分布曲線

電子束追蹤

連續(xù)分析

譜圖分析、線分析、元素面分布

測(cè)試完的數(shù)據(jù)的統(tǒng)一分析(定性、定量)

蒙太奇功能

自動(dòng)制作蒙太奇(SEM 圖像、元素面分布圖)

多區(qū)域連續(xù)元素面分布圖

顆粒度分析軟件

顆粒度分析 (自動(dòng) / 手動(dòng))&EDS 分析

顆粒度分析數(shù)據(jù)的分類(lèi)功能

圖形顯示顆粒度分析數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)處理

大區(qū)域的連續(xù)顆粒度分析 EDS 分析

樣品臺(tái)導(dǎo)航系統(tǒng)上設(shè)定測(cè)試范圍

數(shù)據(jù)管理功能和生成報(bào)告

SMILE VIEW TM Lab

幫助功能

幫助導(dǎo)航

離線功能

與設(shè)備主機(jī)獨(dú)立的PC 上可以解析數(shù)據(jù)的離線軟件


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