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當前位置:首頁 >產(chǎn)品中心>>三坐標測量機>CONTURA 7/10/6 RDS蔡司三坐標測量機

蔡司三坐標測量機

簡要描述:CMM CONTURA高性能蔡司三坐標測量機廣泛適用于各類型工件的測量,其獨到的蔡司固定臺面 CARAT 材質(zhì)橋式結構,高穩(wěn)定低運動重心設計,高精度掃描測頭系統(tǒng)及眾多技術優(yōu)勢,確保了系統(tǒng)的精度及動態(tài)性能,高剛性結構提高了系統(tǒng)對于環(huán)境的抗干擾性能及長久的穩(wěn)定性。

  • 產(chǎn)品型號:CONTURA 7/10/6 RDS
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時間:2024-06-06
  • 訪  問  量:4549

詳細介紹

一、產(chǎn)品基本介紹

1、設備名稱:蔡司三坐標測量機

2、設備型號: CMM CONTURA 7/10/6 RDS

3、設備品牌及產(chǎn)地:卡爾蔡司/德國

二、測量機技術規(guī)格

蔡司三坐標測量機廣泛適用于各類型工件的測量,其獨到的蔡司固定臺面 CARAT 材質(zhì)橋式結構,高穩(wěn)定低運動重心設計,高精度掃描測頭系統(tǒng)及眾多技術優(yōu)勢,確保了系統(tǒng)的良好精度及動態(tài)性能,高剛性結構提高了系統(tǒng)對于環(huán)境的抗干擾性能及長久的穩(wěn)定性。

機型

CMM CONTURA 7106 RDS

測量機設計

高性能固定臺面橋式機體設計

測量范圍(mm)

X=700 Y= 1000 Z= 600

工件尺寸(mm)

寬 B17= 827 長 B16= 1350 高 B18= 600

機器外形尺寸(mm)

寬 B6= 1381 長 B5= 1913 高 B7= 2658

整機重量(kg)

1570

工件重量 (kg)

730

掃描速度

125

空間運動速度

475

空間運動加速度

1850

長度測量誤差MPE-E0/E150 (ISO10360-2:2009) (μm)

1.5 + L/ 350

E0 重復性范圍 MPL-R0

(ISO10360-2:2009) (μm)

1.5

單探針形狀探測精度 MPE-PFTU

(ISO 10360-5:2010)(μm)

1.5

形狀測量誤差 MPE-RONt(MZCI)

ISO 12181)(μm)

1.5

掃描誤差 THP(μm)/檢測時間 MPT(s)(ISO 10360-4:2000)

2.7 / 50

保證以上精度的溫度范圍及梯度,濕度要求

18 - 22°C, 1.5 K/d, 1 K/h, 1 K/m, 30-60 %

電源

1/N/PE 125/230/240 VAC ~ (±10%); 50-60Hz (±3.5%),功耗:800 VA,典型功耗:200 W

壓縮空氣 供氣壓力

最小 6 bar,  8bar,預清潔. 耗氣量約: 50Nl/min. 壓縮空氣質(zhì)量遵循 ISO 8573 part 1: class 4

認證

2006/42/EC,EMC directive 2004/108/EC.

ISO 9001:2008; VDA 6, Parts 4, 2,ISO 14001:2004,BS OHSAS 18001:2007,ISO/IEC 17025:2005

三、系統(tǒng)技術特色

技術特色:高科技機體材料設計

ZEISS CMM CONTURA 采用高精度橋式測量機的主要結構形式,具有更佳的測量空間開敞性。低重心設計確保運動過程的穩(wěn)定性,精益求精的氣浮軸承間隙確保驅動配合的可靠性,高質(zhì)量減震系統(tǒng)受地基影響相對較小,保證機器具有長期的精度穩(wěn)定性。

CONTURA 具有佳的機械精度,集團秉承了一百七十多年精耕細作的傳統(tǒng),實行業(yè)界嚴格的品質(zhì)管控 ZEISS QC 要求。同時,蔡司將材料科技運用:測量系統(tǒng)導軌(橫梁和 Z 軸)配備高科技 DLC 鉆石涂層材料。DLC 鉆石涂層材料各項物理材料性能均表現(xiàn),DLC 涂層材料彈性模量略低于金剛石(1100GPa),但明顯高于一般金屬的彈性模量可達 170-300Gpa, DLC 鉆石涂層材料具有優(yōu)異的耐磨性,摩擦系數(shù)低至 0.1,是一種優(yōu)異的表面抗磨損新型材料。

VAST XXT 低測力掃描探頭特點:

Ø 可以單點探測;

Ø 可以掃描探測;

Ø 手動探測時不受操作人員影響;

Ø 可以根據(jù)名義值掃描;

Ø 可以掃描未知曲線;

Ø 可以自定心打點;

Ø 測量力可調(diào)(不需重新校準探針);

Ø 探測加速度可調(diào);

Ø 標準既能在豎向也可同時在橫向連接探針;

Ø GDT 測量 (尺寸,形狀和位置) 可測量多種角度位置;

Ø 測量力小: 低測力使探針接觸工件時變形更??;

Ø 最小探針直徑 0.3mm;

Ø 精確 – 可測量尺寸,形狀, 位置;

Ø 探測力可通過軟件調(diào)節(jié) (VAXT XXT: 0.01-0.13N);

Ø 掃描速度快 ( 150 點/秒);

Ø 三個探頭模塊,可使用長的探針 (30-125,125-250,30-150mm), 可側面連接或星形探針(側邊探針最長 65mm);

Ø 校準可修正探針彎曲。


 

 

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